一、超聲波探傷儀常見(jiàn)缺陷回波特征

在應(yīng)用超聲波探傷儀時(shí)，一些常見(jiàn)缺陷的回波特征如下：

1、鋼鍛件中的粗晶與疏松

多以雜波、叢狀波形式或底波高度損失增大、底波反射次數(shù)減少等形式出現(xiàn)。

2、棒材的中心裂紋

在沿圓周面作360°徑向縱波掃查時(shí)，由于裂紋的輻射方向性，其反射波幅有高低變化并有不同程度的游動(dòng)，在沿軸向掃查時(shí)，反射波幅度和位置變化不大并顯示有一定的延伸長(zhǎng)度。

3、鍛件中的裂紋

由于裂紋型缺陷內(nèi)含物中多有氣體存在，與基體材料聲阻抗差異較大，超聲反射率高，缺陷有一定延伸長(zhǎng)度，起波速度快，回波前沿陡峭，波峰尖銳，回波后沿斜率很大，當(dāng)探頭越過(guò)裂紋延伸方向移動(dòng)時(shí)，起波迅速，消失也迅速。

4、鋼鍛件中的白點(diǎn)

波峰尖銳清晰，常為多頭狀，反射強(qiáng)烈，起波速度快，回波前沿陡峭，回波后沿斜率很大，在移動(dòng)探頭時(shí)回波位置變化迅速，此起彼伏，多處于被檢件例如鋼棒材的中心到1/2半徑范圍內(nèi)，或者鋼鍛件厚度最大截面的1/4～3/4中層位置，有成批出現(xiàn)的特點(diǎn)（與爐批號(hào)和熱加工批有關(guān)）。當(dāng)白點(diǎn)數(shù)量多、面積大或密集分布時(shí)，還會(huì)導(dǎo)致底波高度顯著降低甚至消失。

5、鍛件中的非金屬夾雜物

多為單個(gè)反射信號(hào)，起波較慢，回波前沿不太陡峭，波峰較圓鈍，回波后沿斜率不太大并且回波占寬較大。

6、鈦合金鍛件中的高密度夾雜物（例如鎢、鉬）

多為單個(gè)反射信號(hào)，回波占寬不太大，但較裂紋類要大些，回波前沿較陡峭，后沿斜率較大，當(dāng)改變探測(cè)頻率和聲束直徑時(shí)，其反射當(dāng)量大小變化不大（如為大晶?；蚱渌M織反射在這種情況下回波高度將有顯著變化）。

7、鑄件或焊縫中的氣孔

起波快但波幅較低，有點(diǎn)狀缺陷的特征。

8、焊縫中的未焊透

多為根部未焊透（如V型坡口單面焊時(shí)鈍邊未熔合）或中間未焊透（如X型坡口雙面焊時(shí)鈍邊未熔合），一般延伸狀況較直，回波規(guī)則單一，反射強(qiáng)，從焊縫兩側(cè)探傷都容易發(fā)現(xiàn)。

9、鑄件或焊縫中的夾渣

反射波較紊亂，位置無(wú)規(guī)律，移動(dòng)探頭時(shí)回波有變化，但波形變化相對(duì)較遲緩，反射率較低，起波速度較慢且后沿斜率不太大，回波占寬較大。

10、鑄鋼件中的裂紋

波形有兩個(gè)主要的特點(diǎn)：有包絡(luò)線，波形比較獨(dú)立;從兩個(gè)方向劃動(dòng)探頭都可以發(fā)現(xiàn)缺陷波。夾渣類缺陷波形不是很獨(dú)立，但是從四個(gè)方向都能檢查缺陷波。

一般在可能的情況下，為了進(jìn)一步確認(rèn)缺陷性質(zhì)，確保產(chǎn)品質(zhì)量，還應(yīng)采用其他無(wú)損檢測(cè)手段，例如X射線檢測(cè)（檢查內(nèi)部缺陷）、磁粉和滲透檢測(cè)（檢查表面缺陷）來(lái)輔助判斷。

二、超聲波探傷儀如何定位缺陷

1、零點(diǎn)調(diào)理

因?yàn)槌暡ń?jīng)過(guò)維護(hù)膜、耦合劑（直探頭）或有機(jī)玻璃楔塊（斜探頭）進(jìn)入待測(cè)工件的，缺陷定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才干獲得超聲波在工件中實(shí)踐聲程。

零點(diǎn)普通是經(jīng)過(guò)已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面（斜探頭）或深100mm的大平底（直探頭）。

2、K值調(diào)理

因?yàn)樾碧筋^探傷時(shí)不只要曉得缺陷的聲程，更要得出缺陷的垂直和程度地位，因而斜探頭還要準(zhǔn)確測(cè)定其K值（折射角）才干地對(duì)缺陷進(jìn)行定位。

K值普通是經(jīng)過(guò)對(duì)具有已知深度孔的試塊來(lái)調(diào)理，磁粉探傷機(jī)如用CSK-IA試塊Φ50或Φ1.5的孔。

3、定量調(diào)理

定量調(diào)理普通采用AVG（直探頭）或DAC（斜探頭）。

4、缺陷定位

超聲波探傷中測(cè)定缺陷地位簡(jiǎn)稱缺陷定位。

（1）縱波（直探頭）定位

縱波定位較簡(jiǎn)略，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上地位等于缺陷至探頭在垂直偏向的間隔。

（2）外表波定位

外表波探傷定位與縱波定位根本相似超聲波探傷儀只是缺陷位于工件外表，缺陷波在屏幕上地位是缺陷至探頭在程度偏向的間隔（此時(shí)要思索探頭前沿）。

（3）橫波定位

橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探頭的折射角或缺陷的程度和垂直偏向的投影來(lái)確定。

（4）橫波周向探測(cè)圓柱面時(shí)缺陷定位周向探傷時(shí)，缺陷定位與平面探傷分歧。