著錄信息
- 專利名稱：回波檢測
- 專利類型：發(fā)明
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/em>CN200980106529.9
- 公開(公告)號(hào)：CN101978606B
- 申請(qǐng)日：20090226
- 公開(公告)日：20131009
- 申請(qǐng)人：半導(dǎo)體配件工業(yè)有限公司
- 發(fā)明人：伊萬·蔻達(dá)
- 申請(qǐng)人地址：美國亞利桑那州
- 申請(qǐng)人區(qū)域代碼：US
- 專利權(quán)人：半導(dǎo)體配件工業(yè)有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：H04B1/06
- 優(yōu)先權(quán)：US12/037,838 20080226
- 專利代理機(jī)構(gòu)：北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258
- 代理人：李曉冬;南霆
- 審查員：王鋒
- 國際申請(qǐng)：PCT/US2009/035300 20090226
- 國際公開(公告)：WO2009/108786 20090903
- 進(jìn)入國家日期：20100826
- 分案申請(qǐng)：無
關(guān)鍵詞
回波,檢測器,低通濾波器,參考正弦,檢測電路,截止頻率,數(shù)字混頻,余弦信號(hào),聲信號(hào),檢測,核實(shí)
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